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金属薄膜方块电阻测试仪使用技巧

发布时间:2015/10/23      点击次数:132

金属薄膜方块电阻测试仪使用技巧

KDB-2B为四探针法测量金属薄膜的方块电阻,该方法操作简单,测量。 
仪器特点如下: 
1、配有双数字表:一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更。 
数字电压表量程:0—19.999mV  灵敏度:1μV  输入阻抗:1000ΜΩ 
 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度) ; 
2、方块电阻测量范围:1×10-5~1.9Ω/□; 
3、电流量程分两档:100mA和1000mA。


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